金融界2025年6月3日消息,国家知识产权局信息显示,浙江创芯集成电路有限公司申请一项名为“分栅存储器及其形成方法”的专利,公开号CN120076331A,申请日期为2025年03月。
专利摘要显示,一种分栅存储器及其形成方法,其中方法包括:提供衬底,所述衬底包括相邻的器件区以及逻辑区;在器件区上沉积形成若干相互分立的存储栅;在所述器件区上依次形成金属选择栅材料层和第一光刻胶层;对第一光刻胶层进行曝光显影,形成具有金属选择栅图案的第一光刻胶层;以具有金属选择栅图案的第一光刻胶层为掩膜,刻蚀所述金属选择栅材料层至暴露出所述器件区表面,形成若干分立的金属选择栅,且所述金属选择栅与所述存储栅邻接。由于金属选择栅表面光滑,能够提高金属选择栅与器件区的衬底内沟道之间的界面质量,减少器件区的衬底内载流子的散射,进而提高载流子迁移率以及沟道电流,从而增强分栅存储器器件的驱动能力,提高分栅存储器的性能。
来源:金融界