金融界2025年6月9日消息,国家知识产权局信息显示,瑞昱半导体股份有限公司申请一项名为“具有全速测试机制的存储器装置及其存储器测试方法”的专利,公开号CN120108478A,申请日期为2023年12月。
专利摘要显示,本发明涉及一种具有全速测试机制的存储器装置及其存储器测试方法。该具有全速测试机制的存储器装置,其中,输出功能电路区块自存储器电路接收输出信号以产生输出结果。信号馈入电路区块包含:馈入正反器电路、馈入逻辑电路及馈入复用器。馈入正反器电路接收并输出馈入信号。馈入逻辑电路接收馈入信号进行处理而产生处理后控制信号。馈入复用器电性耦接于馈入正反器电路及馈入逻辑电路。存储器电路对应输出全速测试模式被写入测试样型,馈入复用器在输出全速测试模式中选择馈入信号作为馈入控制信号操作存储器电路,以直接控制存储器电路输出测试样型于输出信号中,进而使输出结果被验证以进行输出全速测试。
来源:金融界