金融界2025年6月10日消息,国家知识产权局信息显示,上海芯丑半导体设备有限公司申请一项名为“一种芯片测试的异常追溯方法、系统、计算机设备及存储介质”的专利,公开号CN120124655A,申请日期为2025年02月。
专利摘要显示,本发明涉及芯片测试技术领域,公开了一种芯片测试的异常追溯方法、系统、计算机设备及存储介质,通过将录入的测试时所在Site位置对应的测试插座的编码信息与预先扫码确定的所述测试插座的编码信息进行比对,可及时判断是否存在不一致的情况,以避免手动录入错误,有利于在芯片出现测试异常时准确定位对应的测试插座,以准确进行异常分析或异常澄清,适于大范围推广应用。
天眼查资料显示,上海芯丑半导体设备有限公司,成立于2021年,位于上海市,是一家以从事计算机、通信和其他电子设备制造业为主的企业。企业注册资本1000万人民币。通过天眼查大数据分析,上海芯丑半导体设备有限公司专利信息38条,此外企业还拥有行政许可1个。
来源:金融界