证券之星消息,根据天眼查APP数据显示晶合集成(688249)新获得一项发明专利授权,专利名为“一种半导体检测版图、版图设计方法及版图设计系统”,专利申请号为CN202510272737.7,授权日为2025年6月13日。
专利摘要:本发明提供了一种半导体检测版图、版图设计方法及版图设计系统,半导体检测版图设置在晶圆上,且半导体检测版图位于晶圆的切割道中,其中半导体检测版图包括:多个半导体功能层,多个半导体功能层堆叠在晶圆上,形成堆叠结构;阻抗布线或金属布线,设置在半导体功能层中,其中沿着半导体功能层的堆叠方向,半导体功能层的布线宽度递增或不变,其中布线宽度为阻抗布线的宽度或金属布线的宽度;以及接触柱,电性连接于相邻的阻抗布线,或电性连接于相邻的金属布线,其中接触柱的宽度与所接触布线的最大宽度一致。本发明不仅能够提升晶圆上多个检测版图的一致性,还能提升检测版图的设计效率,降低检测版图的占地面积。
今年以来晶合集成新获得专利授权168个,较去年同期增加了3.07%。结合公司2024年年报财务数据,2024年公司在研发方面投入了12.84亿元,同比增21.41%。
数据来源:天眼查APP
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