金阵微电子申请FPGA测试相关专利，加快芯片验证环节的迭代速度
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2025-06-17 23:37:55
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金融界2025年6月17日消息，国家知识产权局信息显示，南京金阵微电子技术有限公司申请一项名为“FPGA测试方法、装置、介质、及终端”的专利，公开号CN120162295A，申请日期为2025年03月。
专利摘要显示，本公开提供FPGA测试方法、装置、介质及终端。该方法包括：对数据寄存器中的幻头进行周期性检查，直到检查通过；对状态寄存器中的复制位进行检查，直到所述复制位表示能够数据复制；将所述数据寄存器中的数据搬运到缓存中，并配置所述复制位为不能够数据复制；对所述缓存中的数据长度进行检查，直到所述数据长度与数据镜像头长度相等；若所述镜像头签名正确，则将搬运数据放到缓冲区地址；对所述状态寄存器中的执行标志进行检查，直到所述执行标志表示能够开始执行，并且根据所述FPGA执行RAM中搬运的可执行固件数据。
天眼查资料显示，南京金阵微电子技术有限公司，成立于2019年，位于南京市，是一家以从事软件和信息技术服务业为主的企业。企业注册资本9716.6167万人民币。通过天眼查大数据分析，南京金阵微电子技术有限公司共对外投资了4家企业，财产线索方面有商标信息10条，专利信息77条，此外企业还拥有行政许可16个。
来源：金融界
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