金融界2025年6月21日消息,国家知识产权局信息显示,荣芯半导体(宁波)有限公司申请一项名为“套刻标记结构及套刻误差测量方法”的专利,公开号CN120178617A,申请日期为2025年05月。
专利摘要显示,本发明提供一种套刻标记结构及套刻误差测量方法,所述套刻标记结构包括前层套刻标记和当层套刻标记,所述前层套刻标记包括多个第一子套刻标记,所述当层套刻标记包括多个第二子套刻标记,多个所述第一子套刻标记构成内部中空的第一方形,多个所述第二子套刻标记构成内部中空的第二方形,所述第一方形包围所述第二方形,且所述第一方形与所述第二方形的中心重合;每个所述第一子套刻标记均包括多个填充有标记材料的沟槽。本发明通过多个沟槽的设置来减少刻蚀时的负载效应问题,增加前层套刻标记位置处的刻蚀深度,从而保证前层套刻标记的完整可识别。
天眼查资料显示,荣芯半导体(宁波)有限公司,成立于2021年,位于宁波市,是一家以从事计算机、通信和其他电子设备制造业为主的企业。企业注册资本41452.2292万人民币。通过天眼查大数据分析,荣芯半导体(宁波)有限公司共对外投资了4家企业,财产线索方面有商标信息15条,专利信息38条。
来源:金融界