大为创芯取得存储芯片测试治具专利，方便存储芯片的检测过程
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2025-05-20 14:35:40
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金融界2025年5月20日消息，国家知识产权局信息显示，深圳市大为创芯微电子科技有限公司取得一项名为“一种存储芯片测试治具”的专利，授权公告号CN222883262U，申请日期为2024年07月。
专利摘要显示，本实用新型涉及存储芯片测试技术领域，尤其为一种存储芯片测试治具，包括支撑板，支撑板下端四角均固定连接有支撑柱，所述支撑板上端后部固定连接有固定板，所述固定板上端固定连接有顶板，所述顶板上端前部穿插连接有两个伸缩杆，两个所述伸缩杆的输出端共同固定连接有测试仪器，所述测试仪器前端设置有显示器，所述测试仪器左右两端均设置有连接头，所述支撑板上端前部设置有两个限位组件，两个所述限位组件左端均设置有固定螺杆，所述支撑板包括托板，所述托板左端穿插连接有承接板，所述承接板上端固定连接有通电板。本实用新型所述的一种存储芯片测试治具，通过设置的支撑板和限位组件，可以方便存储芯片的检测过程。
天眼查资料显示，深圳市大为创芯微电子科技有限公司，成立于2011年，位于深圳市，是一家以从事科技推广和应用服务业为主的企业。企业注册资本3000万人民币。通过天眼查大数据分析，深圳市大为创芯微电子科技有限公司共对外投资了3家企业，财产线索方面有商标信息43条，专利信息73条，此外企业还拥有行政许可12个。
来源：金融界
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