国家知识产权局信息显示,中芯国际集成电路制造(上海)有限公司申请一项名为“半导体结构及其形成方法”的专利,公开号CN121419302A,申请日期为2024年7月。
专利摘要显示,一种半导体结构及其形成方法,半导体结构包括:伪鳍部,凸立于第二区的衬底上;底部隔离层,位于第一区的衬底上;鳍部,凸立于第一区的底部隔离层上;栅极结构,栅极结构横跨鳍部和伪鳍部,栅极结构覆盖鳍部和伪鳍部的部分顶部和部分侧壁。本发明实施例中,栅极结构覆盖鳍部和伪鳍部的部分顶部和部分侧壁,即伪鳍部能够对栅极结构起到支撑作用,从而降低栅极结构的坍塌概率,相应降低第一区的底部隔离层上的鳍部发生坍塌的概率;同时,相较于鳍部和底部隔离层一一对应的方案,底部隔离层覆盖整个第一区,底部隔离层的尺寸变大,即增大了形成底部隔离层的工艺窗口,从而降低形成底部隔离层的难度,进而提高底部隔离层的质量。
天眼查资料显示,中芯国际集成电路制造(上海)有限公司,成立于2000年,位于上海市,是一家以从事计算机、通信和其他电子设备制造业为主的企业。企业注册资本244000万美元。通过天眼查大数据分析,中芯国际集成电路制造(上海)有限公司共对外投资了4家企业,参与招投标项目129次,财产线索方面有商标信息150条,专利信息5000条,此外企业还拥有行政许可446个。
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来源:市场资讯