航天科工微电子申请混频器测试方法专利，大幅提升测试效率和准确性
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2026-02-09 11:41:57
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国家知识产权局信息显示，航天科工微电子系统研究院有限公司申请一项名为“混频器的测试方法”的专利，公开号CN121476899A，申请日期为2025年11月。
专利摘要显示，本发明公开了一种混频器的测试方法，涉及微波射频测试技术领域，包括以下步骤：S1.搭建测试平台；S2.校准测试平台；S3.指标测试；根据接收的反射信号和驻波信号对待测试混频器进行端口隔离度测试、变频损耗测试、端口驻波测试以及输出1dB压缩点测试，并在测试完成后绘制出各指标的测试曲线。该方法可通过一次性校准实现混频器所有关键指标在不同功率频点的测试，同时可实现高功率下LO端口的驻波测试，大幅提升了测试效率和准确性，解决了现有技术测试时需要多次校准且测试效率低的技术问题。
天眼查资料显示，航天科工微电子系统研究院有限公司，成立于2017年，位于成都市，是一家以从事研究和试验发展为主的企业。企业注册资本33150.2万人民币。通过天眼查大数据分析，航天科工微电子系统研究院有限公司参与招投标项目190次，财产线索方面有商标信息20条，专利信息300条，此外企业还拥有行政许可10个。
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来源：市场资讯
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