国家知识产权局信息显示,长飞先进半导体(武汉)有限公司申请一项名为“一种键合片解键合的方法”的专利,公开号CN121586407A,申请日期为2025年12月。
专利摘要显示,本发明涉及一种键合片解键合的方法。所述键合片包括晶圆,所述晶圆包括相对设置的镀银面和器件面;载体,所述载体通过键合介质层,与器件面键合;所述键合片解键合的方法包括以下步骤:在所述镀银面设置耐高温膜;热滑移解键合,分离晶圆与载体;去除所述耐高温膜。本发明通过在热滑移解键合前,在镀银面设置耐高温保护层,以将镀银面的银层与空气进行物理隔绝,避免热滑移解键合过程中银层被氧化,保证银层的洁净,从而提升器件的性能稳定性和可靠性。
天眼查资料显示,长飞先进半导体(武汉)有限公司,成立于2022年,位于武汉市,是一家以从事计算机、通信和其他电子设备制造业为主的企业。企业注册资本360000万人民币。通过天眼查大数据分析,长飞先进半导体(武汉)有限公司参与招投标项目42次,专利信息115条,此外企业还拥有行政许可62个。
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来源:市场资讯