广电计量申请芯片失效分析方法专利，提升芯片失效分析的效率和准确性
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2026-05-31 21:08:40
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国家知识产权局信息显示，广电计量检测集团股份有限公司申请一项名为“一种芯片失效分析方法及相关设备”的专利，公开号CN122111716A，申请日期为2025年12月。
专利摘要显示，本申请公开了一种芯片失效分析方法及相关设备，方法包括：对待分析芯片的多模态数据进行分析，得到初始失效表征集；基于初始失效表征集，在预先构建的失效知识图谱中进行策略推理，得到待分析芯片当前的目标分析策略，进而确定新的失效表征；基于新的失效表征更新初始失效表征集和失效知识图谱，迭代执行策略推理步骤，直至满足预设收敛条件；在满足预设收敛条件时，基于更新后的失效表征集中所有失效表征，计算失效模式与根因的概率值；基于概率值和更新后的失效知识图谱进行逆向根因推理，得到待分析芯片失效的根因。本申请能根据芯片实际的失效表征动态调整分析策略，且提升了芯片失效分析的效率和准确性，可广泛应用于芯片分析技术领域。
声明：市场有风险，投资需谨慎。本文为AI基于第三方数据生成，仅供参考，不构成个人投资建议。
来源：市场资讯
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