上海积塔半导体取得WAT测试结构和方法专利
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2025-07-25 15:10:45
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金融界2025年7月25日消息，国家知识产权局信息显示，上海积塔半导体有限公司取得一项名为“WAT测试结构和方法”的专利，授权公告号CN114883303B，申请日期为2022年03月。
天眼查资料显示，上海积塔半导体有限公司，成立于2017年，位于上海市，是一家以从事计算机、通信和其他电子设备制造业为主的企业。企业注册资本1690740.3918万人民币。通过天眼查大数据分析，上海积塔半导体有限公司参与招投标项目1839次，财产线索方面有商标信息9条，专利信息1207条，此外企业还拥有行政许可193个。
来源：金融界
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