金融界2025年7月28日消息,国家知识产权局信息显示,浙江创芯集成电路有限公司申请一项名为“半导体结构及其形成方法”的专利,公开号CN120379292A,申请日期为2025年04月。
专利摘要显示,一种半导体结构及其形成方法,包括:提供基底;在所述基底上形成具有第一源极凹槽的第一源极层;在所述第一源极层上形成第一沟道层,形成环绕覆盖所述第一沟道层内侧壁的第一栅介质层,形成覆盖所述第一栅介质层的第一栅结构层;在所述第一沟道层上依次形成堆叠的第一漏极层、间隔层和第二源极层;在所述第二源极层上形成第二沟道层,形成环绕覆盖所述第二沟道层内侧壁的第二栅介质层,形成覆盖所述第二栅介质层的第二栅结构层;在所述第二沟道层上形成第二漏极层。
天眼查资料显示,浙江创芯集成电路有限公司,成立于2020年,位于杭州市,是一家以从事计算机、通信和其他电子设备制造业为主的企业。企业注册资本182000万人民币。通过天眼查大数据分析,浙江创芯集成电路有限公司共对外投资了1家企业,参与招投标项目250次,财产线索方面有商标信息14条,专利信息345条,此外企业还拥有行政许可6个。
来源:金融界