金融界2025年8月16日消息,国家知识产权局信息显示,浙江创芯集成电路有限公司申请一项名为“电阻测试结构及其计算方法”的专利,公开号CN120490609A,申请日期为2025年06月。
专利摘要显示,本申请实施例中提供一种电阻测试结构及其计算方法,所述电阻测试结构,包括:基底,包括第一区,与所述第一区相连接的第二区;第一区,包括:一待测电阻;第一端子;第二端子;过孔插塞,数量为(2n+2)个,其中,n为大于等于1的自然数;第一区一待测电阻的一端,通过(2n+2)/2个并联连接的过孔插塞与第一端子耦接,第一区一待测电阻的另一端,通过(2n+2)/2个并联连接的过孔插塞与第二端子耦接;第二区,包括:(2n+2)/2个待测电阻,且各待测电阻之间并联连接;第三端子;第二区每一待测电阻的一端,通过1个过孔插塞与第三端子耦接,且第二区每一待测电阻的另一端,通过1个过孔插塞与第一端子耦接。
天眼查资料显示,浙江创芯集成电路有限公司,成立于2020年,位于杭州市,是一家以从事计算机、通信和其他电子设备制造业为主的企业。企业注册资本182000万人民币。通过天眼查大数据分析,浙江创芯集成电路有限公司共对外投资了1家企业,参与招投标项目256次,财产线索方面有商标信息14条,专利信息381条,此外企业还拥有行政许可7个。
来源:金融界