长迈半导体取得老化测试设备专利，显著提升老化测试的效率
创始人
2025-07-18 21:09:09
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金融界2025年7月18日消息，国家知识产权局信息显示，长迈半导体（成都）有限公司取得一项名为“老化测试设备”的专利，授权公告号CN223123176U，申请日期为2024年09月。
专利摘要显示，本实用新型涉及一种老化测试设备，包括箱体、腔门装置、预推装置及自动拔插装置。根据相应指令能够自动执行测前准备步骤、控温测试步骤及测后分离步骤。在完成前一轮老化测试后，腔门驱动机构驱动门板打开进出口，预推驱动组件驱动预推组件切换至避让状态。此时，通过进出口便可取出承载架及BIB单元板，从而对完成测试的芯片实现下料。接着，将装载待测芯片的BIB单元板置于承载架，并将承载架通过进出口放入测试腔，便可衔接测前准备步骤，以进行下一轮老化测试。
天眼查资料显示，长迈半导体（成都）有限公司，成立于2023年，位于成都市，是一家以从事零售业为主的企业。企业注册资本10000万人民币。通过天眼查大数据分析，长迈半导体（成都）有限公司参与招投标项目2次，财产线索方面有商标信息2条，专利信息85条，此外企业还拥有行政许可2个。
来源：金融界
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