多禾盛申请芯片测试的控制方法专利，提高芯片测试的效率和资源的利用率
创始人
2026-04-04 23:00:09
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国家知识产权局信息显示，深圳多禾盛电子有限公司申请一项名为“芯片测试的控制方法、控制器及存储介质”的专利，公开号CN121784518A，申请日期为2025年12月。
专利摘要显示，申请实施例提出了一种芯片测试的控制方法、控制器及存储介质，涉及芯片测试技术领域，方法包括对所述芯片测试装置进行预设配置处理，得到预设配置信息，其中，所述预设配置处理包括区域布局设置、端口定位校准、芯片测试装置窗口绑定及测试功能自动启动参数配置；获取所述芯片测试装置的当前运行状态；在所述当前运行状态为未运行且获取待检测的芯片的情况下，通过预设的运行指令控制所述芯片测试装置基于所述预设配置信息对所述待检测的芯片进行检测，得到测试信息。本申请实施例能够提高芯片测试的效率和资源的利用率。
天眼查资料显示，深圳多禾盛电子有限公司，成立于2014年，位于深圳市，是一家以从事计算机、通信和其他电子设备制造业为主的企业。企业注册资本100万人民币。通过天眼查大数据分析，深圳多禾盛电子有限公司参与招投标项目2次，此外企业还拥有行政许可5个。
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来源：市场资讯
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