芯欣半导体取得提高芯片良品率的自动化检测设备专利，能更全面准确判断芯片良品率
创始人
2026-04-07 14:53:59
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国家知识产权局信息显示，深圳芯欣半导体有限公司取得一项名为“一种提高芯片良品率的自动化检测设备”的专利，授权公告号CN224095962U，申请日期为2025年4月。
专利摘要显示，本实用新型提供了一种提高芯片良品率的自动化检测设备，包括调节组件，所述调节组件包括检测台、支撑架、第一滑块、第一安装孔和检测组件。本实用新型通过调节组件和检测组件的配合，实现检测头自动化的三维精准移动定位，能迅速对芯片检测，极大缩短检测时长，同时，检测台多个安装槽可同时放置多个芯片限位座，实现多芯片依次检测，进一步提高批量检测效率；通过检测头底部的视觉检测模块和电气性能检测模块协同工作对芯片进行检测，能更全面准确判断芯片良品率，从而有效降低漏检、误检情况；通过针对不同规格芯片，可轻松拆卸更换对应芯片放置槽尺寸的芯片限位座，从而适应多种芯片限位需求，使设备能应对多种芯片检测，提升通用性。
天眼查资料显示，深圳芯欣半导体有限公司，成立于2020年，位于深圳市，是一家以从事计算机、通信和其他电子设备制造业为主的企业。企业注册资本200万人民币。通过天眼查大数据分析，深圳芯欣半导体有限公司财产线索方面有商标信息6条，专利信息2条，此外企业还拥有行政许可3个。
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来源：市场资讯
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