今日芯科技申请一种芯片的缺陷检测方法及系统专利，实现对芯片准确、及时的性能检测
创始人
2025-05-30 09:03:28
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金融界2025年5月30日消息，国家知识产权局信息显示，深圳今日芯科技有限公司申请一项名为“一种芯片的缺陷检测方法及系统”的专利，公开号CN120064815A，申请日期为2024年12月。
专利摘要显示，本发明涉及芯片检测技术领域，公开了一种芯片的缺陷检测方法及系统，所述方法包括获取芯片制造工艺参数和芯片功能测试参数；根据所述芯片制造工艺参数和预先获取的芯片制造工艺参数在各芯片的目标数据进行计算，得到样本工艺偏差数据；进行第一分析操作，确定工艺偏差特征；根据所述芯片功能测试参数进行计算操作，得到芯片功能测试偏差；进行第二分析操作，得到功能偏差特征；预设的初始权重进行更新计算，得到工艺特征权重和功能特征权重；进行综合分析操作，得到综合评估值；基于预设的第一分值和预设的第二分值对所述综合评估值进行判断，得到芯片的运行状态检测结果。
天眼查资料显示，深圳今日芯科技有限公司，成立于2021年，位于深圳市，是一家以从事软件和信息技术服务业为主的企业。企业注册资本2200万人民币。通过天眼查大数据分析，深圳今日芯科技有限公司财产线索方面有商标信息1条，专利信息6条，此外企业还拥有行政许可9个。
来源：金融界
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