金融界2025年6月2日消息,国家知识产权局信息显示,中微半导体设备(上海)股份有限公司申请一项名为“气相沉积设备基片状态识别方法、系统及气相沉积设备”的专利,公开号CN120070301A,申请日期为2023年11月。
专利摘要显示,本发明提供一种气相沉积设备基片状态识别方法、系统及气相沉积设备,在反应腔处于初始温度以及各个节点温度时拍摄托盘的图像,将各个节点温度对应的图像与初始温度对应的图像进行对比,得到各个节点温度对应的噪声数据,在对基片进行处理的过程中,在反应腔升温过程中,获取升温至任一节点温度时基片和托盘的图像,结合该节点温度对应的噪声数据进行处理后,得到去噪后的图像,去噪后的图像相比于原始图像更为清晰,因此能够提高基片状态识别的准确性。
来源:金融界