上海江丰半导体取得高纯铝材料缺陷检测方法专利
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2025-06-03 15:06:54
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金融界2025年6月3日消息，国家知识产权局信息显示，上海江丰半导体技术有限公司取得一项名为“一种高纯铝材料的缺陷检测方法”的专利，授权公告号CN115469012B，申请日期为2022年10月。
来源：金融界
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