华一精品申请小芯片动态负载测试方法及装置专利，提升小芯片热稳定性和整体性能
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2025-06-10 22:04:34
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金融界2025年6月10日消息，国家知识产权局信息显示，深圳华一精品科技有限公司申请一项名为“一种小芯片的动态负载测试方法及装置”的专利，公开号CN120123163A，申请日期为2025年05月。
专利摘要显示，本发明涉及数据处理的技术领域，提供了一种小芯片的动态负载测试方法及装置，包括采集小芯片在多频率负载切换过程中产生的瞬态热通量数据后，以生成热动态行为图谱，根据热动态行为图谱计算出热耦合干扰指标图，将热耦合干扰指标图输入预设的热稳定性映射矩阵，生成小芯片动态负载行为评估参数组。通过将瞬态热通量数据输入预设的热稳定性映射矩阵，以生成的小芯片动态负载行为评估参数组，提升了小芯片的热稳定性和整体性能,改善在实际应用中，现有技术存在依赖于单一的热监测数据，且在负载切换频率较高或负载扰动较大时，无法准确识别出潜在的热耦合干扰及其对系统性能影响的问题。
天眼查资料显示，深圳华一精品科技有限公司，成立于2014年，位于深圳市，是一家以从事计算机、通信和其他电子设备制造业为主的企业。企业注册资本5000万人民币。通过天眼查大数据分析，深圳华一精品科技有限公司参与招投标项目5次，财产线索方面有商标信息4条，专利信息65条，此外企业还拥有行政许可13个。
来源：金融界
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