金融界2025年6月14日消息,国家知识产权局信息显示,华虹半导体(无锡)有限公司;华虹半导体制造(无锡)有限公司申请一项名为“电容及其形成方法”的专利,公开号CN120152305A,申请日期为2025年03月。
专利摘要显示,本发明实施例提供一种电容及其形成方法,所述电容的形成方法包括:形成第一电极层、介质层以及第二电极层,所述介质层位于所述第一电极层和所述第二电极层之间,所述介质层内包括Si‑H键和/或N‑H键;所述电容的形成方法还包括:对介质层进行处理,以打断所述介质层中的至少部分Si‑H键和/或N‑H键。采用所述形成方法可以提高电容的击穿电压。
天眼查资料显示,华虹半导体(无锡)有限公司,成立于2017年,位于无锡市,是一家以从事计算机、通信和其他电子设备制造业为主的企业。企业注册资本253685.180069万美元。通过天眼查大数据分析,华虹半导体(无锡)有限公司共对外投资了1家企业,参与招投标项目2921次,专利信息1682条,此外企业还拥有行政许可117个。
华虹半导体制造(无锡)有限公司,成立于2022年,位于无锡市,是一家以从事计算机、通信和其他电子设备制造业为主的企业。企业注册资本402000万美元。通过天眼查大数据分析,华虹半导体制造(无锡)有限公司参与招投标项目371次,专利信息21条,此外企业还拥有行政许可226个。
来源:金融界