金融界2025年6月17日消息,国家知识产权局信息显示,华虹半导体(无锡)有限公司申请一项名为“自对准高压CMOS器件的制造方法”的专利,公开号CN120166764A,申请日期为2025年03月。
专利摘要显示,本发明提供一种自对准高压CMOS器件的制造方法,图形化栅极多晶硅层及其下方的第一、二栅极介电层,分别形成高压CMOS和其他CMOS的第一、二栅极结构,形成覆盖其他CMOS区域且位于第一栅极结构上的掩膜层,从剖面结构观察,位于第一栅极结构上的掩膜层为上窄下宽的梯形形貌,其底部倾斜角度为θ,以掩膜层和第一栅极结构为掩膜进行带倾斜角的轻掺杂漏离子注入,形成高压CMOS的第一轻掺杂漏,第一轻掺杂漏为第二导电类型,使得第一栅极结构和第一轻掺杂漏的交叠区增大。
天眼查资料显示,华虹半导体(无锡)有限公司,成立于2017年,位于无锡市,是一家以从事计算机、通信和其他电子设备制造业为主的企业。企业注册资本253685.180069万美元。通过天眼查大数据分析,华虹半导体(无锡)有限公司共对外投资了1家企业,参与招投标项目2921次,专利信息1686条,此外企业还拥有行政许可117个。
来源:金融界