时代全芯申请存储器内建自测试系统测试方法专利，减小芯片占用面积
金融界2025年6月17日消息，国家知识产权局信息显示，北京时代全芯存储技术股份有限公司;北京时代全芯存储科技有限公司申请一项名为“存储器的内建自测试系统的测试方法”的专利，公开号CN120164512A，申请日期为2025年02月。
专利摘要显示，本发明提供一种存储器的BIST系统的测试方法，属于集成电路领域。本发明的测试方法包括：页缓存器测试步骤，测试机台通过总线向控制器发送页缓存器测试命令，控制器控制BIST电路对页缓存器进行测试，确认页缓存器是否有损坏；存储阵列测试步骤，测试机台通过总线向控制器发送存储阵列测试命令，控制器控制BIST电路对存储阵列进行测试；判定步骤，BIST电路判定存储阵列是否可修复；暂存步骤，测试完成后，BIST电路将测试结果暂存在页缓存器中；写入步骤，控制器将暂存在页缓存器中的测试结果通过总线发送给测试机台，测试机台将测试结果通过总线发送给控制器，控制器将测试结果写入一次性可编程存储器。
天眼查资料显示，北京时代全芯存储技术股份有限公司，成立于2017年，位于北京市，是一家以从事批发业为主的企业。企业注册资本118815.0486万人民币。通过天眼查大数据分析，北京时代全芯存储技术股份有限公司共对外投资了2家企业，参与招投标项目5次，财产线索方面有商标信息6条，专利信息155条，此外企业还拥有行政许可9个。
北京时代全芯存储科技有限公司，成立于2019年，位于北京市，是一家以从事科技推广和应用服务业为主的企业。企业注册资本5000万人民币。通过天眼查大数据分析，北京时代全芯存储科技有限公司专利信息66条，此外企业还拥有行政许可1个。
来源：金融界
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