上海光键半导体取得高度监测装置专利确保产品键合工艺准确性_资源案例

上海光键半导体取得高度监测装置专利确保产品键合工艺准确性

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2025-06-20 13:40:13

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金融界2025年6月20日消息，国家知识产权局信息显示，上海光键半导体设备有限公司取得一项名为“一种高度监测装置”的专利，授权公告号CN223006746U，申请日期为2024年09月。

专利摘要显示，本实用新型提供了一种高度监测装置，属于半导体键合领域。该高度监测装置包括键合机，用于承载待键合产品。高度监测设备，安装于键合机的上方，用于对待键合产品的高度进行测量并输出测量的数据。控制设备，连接至高度监测设备，用于接收高度监测设备输出的数据，并输出控制信号。激光器，配置于键合机的上方，并与控制设备连接，用于接收控制信号，并对待键合产品进行键合。本实用新型通过设置有高度监测设备，对待键合产品的高度参数进行进一步确认，从而能够解决在激光加热辅助键合过程中，因移动设备的偏移，或者上料系统输送的载有待键合产品的载体高度异常所导致的键合高度偏差问题，从而确保产品键合工艺的准确性和产品质量的稳定性。

天眼查资料显示，上海光键半导体设备有限公司，成立于2023年，位于上海市，是一家以从事计算机、通信和其他电子设备制造业为主的企业。企业注册资本500万人民币。通过天眼查大数据分析，上海光键半导体设备有限公司专利信息16条。

来源：金融界

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