舍弗勒申请用于监测和管理电子电路的导通损耗的方法专利，监测和管理电子电路的导通损耗
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2025-07-12 18:38:49
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金融界2025年7月12日消息，国家知识产权局信息显示，舍弗勒技术股份两合公司申请一项名为“用于监测和管理电子电路的导通损耗的方法”的专利，公开号CN120303866A，申请日期为2023年11月。
专利摘要显示，本发明涉及一种用于监测和管理电子电路的导通损耗的方法，电子电路至少包括第一晶体管(T1)和第二晶体管(T2)，第一晶体管(T1)和第二晶体管(T2)被并联耦合，所述方法包括：#第一步骤E1)，在于操作第一晶体管(T1)使得其转变到闭路状态，并且测量在第一晶体管(T1)在闭路状态下操作之后所述第一晶体管的第一闭合延迟(Df_T1)，#第二步骤E2)，在于操作第二晶体管(T2)使得其转变到闭路状态，第二晶体管(T2)在闭路状态下操作发生在第一确定持续时间TM1之后，#第三步骤E3)，在于操作第一晶体管(T1)使得其转变到开路状态，并且测量在第一晶体管(T1)在开路状态下操作之后所述第一晶体管的第一断开延迟(Do_T1)，#第四步骤E4)，在于操作第二晶体管(T2)使得其转变到开路状态，第二晶体管(T2)在开路状态下操作发生在第二确定持续时间TM2之后。
来源：金融界
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