国家知识产权局信息显示,北京时代全芯存储技术股份有限公司、北京时代全芯存储科技有限公司申请一项名为“相变存储器的相变材料层的蚀刻方法”的专利,公开号CN121038594A,申请日期为2025年9月。专利摘要显示,本发明提供一种相变存储器的GST层的蚀刻方法,属于半导体集成电路制造领域。本发明的蚀刻方法包括:积层体形成步骤,在半导体衬底上形成积层体,积层体包括从下至上依次形成的GST层,TiN层,SiN层,ARC层,以及PR层,其中,SiN层的厚度小于或等于60纳米;光刻步骤,对PR层进行曝光显影,形成图案化PR层;第一蚀刻步骤,通过图案化PR层对ARC层和SiN层进行蚀刻,形成图案化SiN层;以及第二蚀刻步骤,通过图案化SiN层对TiN层和GST层进行蚀刻,形成图案化TiN层和图案化GST层。通过本发明的蚀刻方法,可以减少缺陷,从而提高产品良率。此外还简化了制造工艺,降低了制造成本。
天眼查资料显示,北京时代全芯存储技术股份有限公司,成立于2017年,位于北京市,是一家以从事批发业为主的企业。企业注册资本121815.0486万人民币。通过天眼查大数据分析,北京时代全芯存储技术股份有限公司共对外投资了2家企业,参与招投标项目5次,财产线索方面有商标信息6条,专利信息164条,此外企业还拥有行政许可9个。
北京时代全芯存储科技有限公司,成立于2019年,位于北京市,是一家以从事科技推广和应用服务业为主的企业。企业注册资本5000万人民币。通过天眼查大数据分析,北京时代全芯存储科技有限公司专利信息91条,此外企业还拥有行政许可1个。
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