金融界2025年5月23日消息,国家知识产权局信息显示,武汉新芯集成电路股份有限公司申请一项名为“一种存储器件的制造方法及存储器件”的专利,公开号CN120035141A,申请日期为2023年11月。
专利摘要显示,本发明公开了一种存储器件的制造方法及存储器件,方法包括:提供半导体基材,包括衬底和硬掩膜层;在半导体基材中开设多个第一凹槽,分布于存储区域和引出区域,其在衬底中的部分定义为基体凹槽;在基体凹槽中形成栅绝缘层和半浮栅,半浮栅的一部分与衬底接触,另一部分与衬底之间通过栅绝缘层隔离;在第一凹槽中形成栅间介质层和控制栅极层,以及在控制栅极层上形成连接改善层,其中,一部分控制栅极层作为存储单元的控制栅极,另一部分作为存储单元的引出端,引出端连接同一行的多个存储单元的控制栅极;即本申请中在控制栅极层上形成连接改善层,有效降低控制栅极层所对应的控制栅极的电阻,提高半浮栅阵列的操作速度,以提升存储器件性能。
天眼查资料显示,武汉新芯集成电路股份有限公司,成立于2006年,位于武汉市,是一家以从事计算机、通信和其他电子设备制造业为主的企业。企业注册资本847900.6412万人民币。通过天眼查大数据分析,武汉新芯集成电路股份有限公司共对外投资了2家企业,参与招投标项目208次,财产线索方面有商标信息68条,专利信息1749条,此外企业还拥有行政许可105个。
来源:金融界