上海集成电路研发中心申请错误检测装置及霍尔传感器专利，能够提高检测效率以及检测结果的准确性和可靠性
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2026-01-26 13:42:53
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国家知识产权局信息显示，上海集成电路研发中心有限公司申请一项名为“错误检测装置及霍尔传感器”的专利，公开号CN121396202A，申请日期为2024年7月。
专利摘要显示，本申请提供一种错误检测装置及霍尔传感器，包括：获取模块，接收第一待测信号和第二待测信号，用于定时获取所述第一待测信号和所述第二待测信号的跳变状态，若仅有所述第一待测信号发生跳变则记录为第一值，若仅有所述第二待测信号发生跳变则记录为第二值，否则，记录为默认值，以得到第一数据；检测模块，耦接于所述获取模块，用于检测所述第一数据中，所述第一值和所述第二值的数据量是否匹配，若不匹配，则判定所述第一待测信号和第二待测信号间的相位差不满足要求。本方案能够提高检测效率以及检测结果的准确性和可靠性。
天眼查资料显示，上海集成电路研发中心有限公司，成立于2002年，位于上海市，是一家以从事其他制造业为主的企业。企业注册资本30060万人民币。通过天眼查大数据分析，上海集成电路研发中心有限公司共对外投资了7家企业，参与招投标项目295次，财产线索方面有商标信息98条，专利信息2160条，此外企业还拥有行政许可88个。
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来源：市场资讯
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