上海微阱电子科技申请图像传感器测试方法及系统专利，提高了图像传感器的测试效率
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2026-03-07 14:27:16
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国家知识产权局信息显示，上海微阱电子科技有限公司申请一项名为“一种图像传感器测试方法及系统”的专利，公开号CN121619421A，申请日期为2025年12月。
专利摘要显示，本发明提供一种图像传感器测试方法及系统，包括：构建测试向量生成模型；利用测试向量生成模型生成测试向量；利用测试向量对图像传感器进行测试，以获得测试结果；将测试结果反馈至测试向量生成模型，以动态调整生成新的测试向量；利用新的测试向量对图像传感器进行测试，以获得最终的测试结果。通过构建测试向量生成模型来自动生成测试向量，并根据测试结果动态调整生成的测试向量，从而能够根据实时的测试需求和测试结果生成对应的测试向量，不仅提高了测试向量的生成效率，还提高了测试缺陷的覆盖率，从而有效提高了图像传感器的测试效率、降低了测试成本，解决了现有图像传感器测试效率低的问题。
声明：市场有风险，投资需谨慎。本文为AI基于第三方数据生成，仅供参考，不构成个人投资建议。
来源：市场资讯
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