紫光青藤申请芯片测试系统专利，能够有效减少芯片测试过程中因芯片IO管脚漏电导致的过杀现象
创始人
2026-03-28 15:48:56
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国家知识产权局信息显示，北京紫光青藤微系统有限公司申请一项名为“芯片测试系统、方法及装置”的专利，公开号CN121741442A，申请日期为2025年12月。
专利摘要显示，本申请涉及芯片测试技术领域，公开一种芯片测试系统、方法及装置，芯片测试系统包括：测试机台，设置有IO通道，IO通道用于输出IO资源；测试针卡，设置有一个IO输入接口、多个IO输出接口和多个串联电阻，所有串联电阻的第一端并联于IO输入接口，每个串联电阻的第二端分别与一个IO输出接口连接；测试针卡能够为每个IO输出接口分配IO资源；多个待测芯片，每个待测芯片均设置有IO管脚，每个IO管脚分别与一个IO输出接口连接；其中，在IO管脚发生漏电的情况下，能够通过串联电阻实现限流保护。在多芯片共享IO资源的测试场景中，串联电阻的限流保护能够有效减少芯片测试过程中因芯片IO管脚漏电导致的过杀现象。
天眼查资料显示，北京紫光青藤微系统有限公司，成立于2019年，位于北京市，是一家以从事软件和信息技术服务业为主的企业。企业注册资本6597.7444万人民币。通过天眼查大数据分析，北京紫光青藤微系统有限公司共对外投资了2家企业，参与招投标项目6次，财产线索方面有商标信息9条，专利信息439条，此外企业还拥有行政许可5个。
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来源：市场资讯
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