杭州御渡半导体申请多板卡并行测试方法专利，提升了设备吞吐量
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2026-04-04 19:32:47
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国家知识产权局信息显示，杭州御渡半导体科技有限公司申请一项名为“一种多板卡并行测试方法、系统和计算机可读存储介质”的专利，公开号CN121784513A，申请日期为2025年11月。
专利摘要显示，本发明属于半导体设备测试领域，具体公开了一种多板卡并行测试方法、系统和计算机可读存储介质，兼具了灵活性与高效性。所述方法包括：配置一测试流程，测试流程内包括多个测试项，测试项内包括多个测试动作；第一测试模式发送单个高级指令来启动整个测试项，由板卡端在本地自主完成该项内的所有具体动作，解决了因频繁网络交互而导致的效率问题，能够将一个复杂测试项的多次网络通信开销缩减为一次，从而在效率要求较为苛刻的芯片量产测试环节中，提升了设备吞吐量；第二测试模式允许主机端逐一发送并控制每一个基础测试动作的执行，提供了对测试流程的精细化管理能力，非常适用于开发阶段的问题定位与调试。
天眼查资料显示，杭州御渡半导体科技有限公司，成立于2021年，位于杭州市，是一家以从事研究和试验发展为主的企业。企业注册资本1000万人民币。通过天眼查大数据分析，杭州御渡半导体科技有限公司专利信息15条，此外企业还拥有行政许可4个。
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来源：市场资讯
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