金融界2025年6月2日消息,国家知识产权局信息显示,贵州芯际探索科技有限公司申请一项名为“一种用于SiC半导体器件的栅极漏电检测装置”的专利,公开号CN120064916A,申请日期为2025年02月。
专利摘要显示,本发明涉及半导体器件技术领域,具体地说,涉及一种用于SiC半导体器件的栅极漏电检测装置,其包括检测室和输送组件,其特征在于:所述检测室的内侧设置有支撑架,所述支撑架内侧设置有用于检测的滑动套,所述检测室的内侧设置有用于输送SiC半导体的一号输送台和二号输送台,所述检测室内设置有用于校正SiC半导体方向的输送组件,所述输送组件内设置有用于输送的输送盘,所述输送组件的两侧设置有用于检测的连杆组件,本发明通过所述输送盘的输送,利用所述输送组件完成对SiC半导体方向的校正,同时利用所述连杆组件和滑动套完成对SiC半导体的检测。
来源:金融界