金融界2025年7月30日消息,国家知识产权局信息显示,ICT半导体集成电路测试有限公司取得一项名为“用于检查和/或成像样品的带电粒子束装置和方法”的专利,授权公告号CN115516597B,申请日期为2021年03月。
来源:金融界
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