金融界2025年8月22日消息,国家知识产权局信息显示,恩智浦有限公司申请一项名为“用于检测电路中的故障的电路和方法”的专利,公开号CN120522539A,申请日期为2025年02月。
专利摘要显示,本文描述了一种用于测试射频RF集成电路和外部电路系统之间的连接的故障的电路和方法。所述电路包括:第一放大器,其具有输入路径和输出路径;第二放大器,其具有输入路径和输出路径;组合器,其用于组合来自所述第一放大器的所述输出路径和所述第二放大器的所述输出路径的信号;耦合器,其用于接收所述组合器的输出;以及功率检测器,其耦合到所述耦合器的输出,所述组合器被配置成向所述外部电路系统发送信号,其中所述功率检测器从所述外部电路系统接收反射电压,并且当所述反射电压超过预设阈值电压时,确定所述RF电路和所述外部电路系统之间存在连接故障。
来源:金融界