金融界2025年5月21日消息,国家知识产权局信息显示,湖北江城芯片中试服务有限公司申请一项名为“半导体结构及其制造方法”的专利,公开号CN120018537A,申请日期为2025年02月。
专利摘要显示,本公开实施例提供了一种半导体结构及其制造方法,所述制造方法包括:在衬底表面形成堆叠结构;所述堆叠结构包括交替层叠的第一牺牲层和第二牺牲层;形成贯穿所述堆叠结构且与所述衬底接触的半导体柱;在所述堆叠结构内形成沟槽,所述沟槽的侧壁显露出每个所述第二牺牲层;通过所述沟槽去除所述半导体柱侧壁的每个所述第二牺牲层;刻蚀所述半导体柱显露出的侧壁,以在所述半导体柱显露出的侧壁表面形成凹槽;去除所述半导体柱侧壁的所述第一牺牲层;在所述半导体柱的侧壁依次形成栅介质层和栅极。
天眼查资料显示,湖北江城芯片中试服务有限公司,成立于2021年,位于武汉市,是一家以从事研究和试验发展为主的企业。企业注册资本1000万人民币。通过天眼查大数据分析,湖北江城芯片中试服务有限公司共对外投资了6家企业,参与招投标项目32次,财产线索方面有商标信息6条,专利信息87条,此外企业还拥有行政许可8个。
来源:金融界