长迈半导体申请DUT测试结果处理方法专利，提升了DUT测试结果的处理效率_电子百科

长迈半导体申请DUT测试结果处理方法专利，提升了DUT测试结果的处理效率

创始人

2026-01-22 22:14:03

0次

国家知识产权局信息显示，长迈半导体（成都）有限公司申请一项名为“DUT测试结果处理方法、错误存储器、数字板卡和测试机”的专利，公开号CN121366627A，申请日期为2025年12月。

专利摘要显示，本申请涉及一种DUT测试结果处理方法、错误存储器、数字板卡和测试机，该方法包括：捕获基于N条信号线采样的比较数据，每条信号线对应的比较数据包括前沿比较数据和后沿比较数据；其中，N为大于0的自然数；对N条信号线对应的比较数据进行筛选，以提取出错误数据和错误数据的地址；将错误数据的地址进行比较，根据地址比较结果和信号线的条数N，生成分拍标志信号；将错误数据、错误数据的地址以及分拍标志信号进行拼接，将拼接数据存入第一存储单元；根据分拍标志信号，将第一存储单元中的错误数据和错误数据的地址分拍发送至第二存储单元中；节省了错误数据的下发存储时间，提升了DUT测试结果的处理效率。

天眼查资料显示，长迈半导体（成都）有限公司，成立于2023年，位于成都市，是一家以从事计算机、通信和其他电子设备制造业为主的企业。企业注册资本19625万人民币。通过天眼查大数据分析，长迈半导体（成都）有限公司参与招投标项目2次，财产线索方面有商标信息2条，专利信息112条，此外企业还拥有行政许可2个。

声明：市场有风险，投资需谨慎。本文为AI基于第三方数据生成，仅供参考，不构成个人投资建议。

来源：市场资讯

方法数据错误结果测试处理存储器地址导体专利 N条数字板卡信号

上一篇：英特尔即将推出搭载BMG-G31芯片的Arc Pro B70显卡

下一篇：电子表决设备在政务会议中的功能定位与品牌分析

长迈半导体申请DUT测试结果处理方法专利，提升了DUT测试结果的处理效率

相关内容

热门资讯