得明电子申请芯片检测系统及方法专利，实现芯片表面缺陷的高精度智能检测
创始人
2026-03-07 19:55:06
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国家知识产权局信息显示，杭州得明电子股份有限公司申请一项名为“一种芯片检测系统及方法”的专利，公开号CN121614978A，申请日期为2025年11月。
专利摘要显示，本发明公开一种芯片检测系统及方法，获取芯片表面各检测点的图像畸变数据集；对数据集开展模式识别提取缺陷偏差特征簇，通过关联匹配确定关键故障区域；在故障区域构建像素校正识别网络捕捉光度干扰信号，转换为识别增强信号形成干扰校正图，进行时序关联分析生成主要偏差源；通过主要偏差源进行并行处理生成识别队列，对队列聚焦处理形成特征增强源，开展延时分析生成空间传输时差；将空间传输时差变换为概率传输链，实施多层概率累加处理，通过概率融合分析确定识别判定节点；对识别判定节点实施概率权值分配构建概率分布网络，基于网络与时窗扩展参数确定分级缺陷识别结果，实现芯片表面缺陷的高精度智能检测。
天眼查资料显示，杭州得明电子股份有限公司，成立于2012年，位于杭州市，是一家以从事批发业为主的企业。企业注册资本500万人民币。通过天眼查大数据分析，杭州得明电子股份有限公司参与招投标项目1次，财产线索方面有商标信息2条，专利信息69条，此外企业还拥有行政许可2个。
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来源：市场资讯
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