金融界2025年5月31日消息,国家知识产权局信息显示,华虹半导体(无锡)有限公司;华虹半导体制造(无锡)有限公司申请一项名为“改善切边缺陷的方法”的专利,公开号CN120076443A,申请日期为2025年02月。
专利摘要显示,本发明提供一种改善切边缺陷的方法,提供器件晶圆,将器件晶圆的正面形成有器件结构,在器件晶圆正面形成有正电性的第一介质层;在第一介质层上形成在湿法清洗中呈负电性的第二介质层;对器件晶圆的边缘进行切边处理,以避免后续减薄过程中边缘出现尖锐形貌;利用湿法清洗去除器件晶圆上的硅屑。本发明可以有效去除器件晶圆表面Si屑残留,改善后续的键合缺陷。
天眼查资料显示,华虹半导体(无锡)有限公司,成立于2017年,位于无锡市,是一家以从事计算机、通信和其他电子设备制造业为主的企业。企业注册资本253685.180069万美元。通过天眼查大数据分析,华虹半导体(无锡)有限公司共对外投资了1家企业,参与招投标项目2915次,专利信息1661条,此外企业还拥有行政许可117个。
华虹半导体制造(无锡)有限公司,成立于2022年,位于无锡市,是一家以从事计算机、通信和其他电子设备制造业为主的企业。企业注册资本402000万美元。通过天眼查大数据分析,华虹半导体制造(无锡)有限公司参与招投标项目370次,专利信息16条,此外企业还拥有行政许可226个。
来源:金融界