时代全芯申请存储器的内建自测试系统专利，减小芯片占用面积_电子技术

时代全芯申请存储器的内建自测试系统专利，减小芯片占用面积

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2025-06-18 19:08:37

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金融界2025年6月18日消息，国家知识产权局信息显示，北京时代全芯存储技术股份有限公司、北京时代全芯存储科技有限公司申请一项名为“存储器的内建自测试系统”的专利，公开号CN120164513A，申请日期为2025年02月。

专利摘要显示，本发明提供一种存储器的内建自测试系统，属于集成电路领域。本发明的存储器包括：存储阵列，其包括用于存储数据的多个存储单元；控制器，其通过多路选择器与存储阵列电连接，并通过总线与测试机台电连接；内建自测试系统包括：内建自测试电路，其与控制器电连接，并通过多路选择器与存储阵列电连接，内建自测试电路用于对存储阵列进行测试；页缓存器，其与控制器和内建自测试电路电连接，用于在向存储阵列写入数据时，对写入数据进行缓存，并且用于在对存储阵列进行BIST时，暂存测试结果；一次性可编程存储器，其与控制器电连接，用于最终存储测试结果。

天眼查资料显示，北京时代全芯存储技术股份有限公司，成立于2017年，位于北京市，是一家以从事批发业为主的企业。企业注册资本118815.0486万人民币。通过天眼查大数据分析，北京时代全芯存储技术股份有限公司共对外投资了2家企业，参与招投标项目5次，财产线索方面有商标信息6条，专利信息155条，此外企业还拥有行政许可9个。

北京时代全芯存储科技有限公司，成立于2019年，位于北京市，是一家以从事科技推广和应用服务业为主的企业。企业注册资本5000万人民币。通过天眼查大数据分析，北京时代全芯存储科技有限公司专利信息66条，此外企业还拥有行政许可1个。

来源：金融界

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