武汉智汇芯申请供光芯片加工用测试装置专利，可判断激光二极管内部芯片是否达标
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2025-08-18 20:46:33
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金融界2025年8月18日消息，国家知识产权局信息显示，武汉智汇芯科技有限公司申请一项名为“一种具有自主上料功能的供光芯片加工用测试装置”的专利，公开号CN120490766A，申请日期为2025年05月。
专利摘要显示，本发明提出了一种具有自主上料功能的供光芯片加工用测试装置，测试平台顶部设有三轴桁架机器人，三轴桁架机器人的自由端上设有安装壳，安装壳内设有激光强度探测器，安装壳底部设有垂直向下的检测管，检测管顶部通过管道与负压装置相连，检测管底部设有吸盘，吸盘底部的腔体仅能容纳一个激光二极管，吸盘、检测管和安装壳之间相互连通，让激光二极管发出的光能照射在激光强度探测器上。本发明在使用时，可控制三轴桁架机器人依次将各个激光二极管拾取，并带动激光二极管的引脚自动和触头接触，当激光强度探测器探测的光照强度与设定值一样时，则证明激光二极管内部的芯片完整，反之，则能判断激光二极管内部的芯片不达标。
来源：金融界
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