中芯国际申请测试电路等相关专利，有利于提高测试结果的可靠性_电子技术

中芯国际申请测试电路等相关专利，有利于提高测试结果的可靠性

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2025-05-22 20:37:22

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金融界2025年5月22日消息，国家知识产权局信息显示，中芯国际集成电路制造（北京）有限公司;中芯国际集成电路制造（上海）有限公司申请一项名为“测试电路、测试方法以及芯片”的专利，公开号CN120020572A，申请日期为2023年11月。

专利摘要显示，一种测试电路、测试方法以及芯片，测试电路包括：被保护模块，适于加载性能测试信号时，输出被保护模块的性能参数；静电放电模块，与被保护模块耦接且并联设置，适于在加载静电放电测试信号时导通，以对静电电流进行泄放。本发明的静电放电模块可以在加载静电放电测试信号时，起到减小静电电流对被保护模块造成损伤的作用，也就是说，加载静电放电测试信号时，不仅能够测试静电放电模块的电学性能，还能够测试静电放电模块对被保护模块的防护效果，从而能够较好地模拟出静电放电模块的实际应用场景，有利于提高测试电路的可靠性，进而有利于提高测试结果的可靠性。

天眼查资料显示，中芯国际集成电路制造（北京）有限公司，成立于2002年，位于北京市，是一家以从事计算机、通信和其他电子设备制造业为主的企业。企业注册资本100000万美元。通过天眼查大数据分析，中芯国际集成电路制造（北京）有限公司共对外投资了1家企业，参与招投标项目51次，专利信息5000条，此外企业还拥有行政许可226个。

中芯国际集成电路制造（上海）有限公司，成立于2000年，位于上海市，是一家以从事计算机、通信和其他电子设备制造业为主的企业。企业注册资本244000万美元。通过天眼查大数据分析，中芯国际集成电路制造（上海）有限公司共对外投资了4家企业，参与招投标项目127次，财产线索方面有商标信息149条，专利信息5000条，此外企业还拥有行政许可443个。

来源：金融界

制造电路中芯国际相关测试放电模块静电专利的可靠性中芯集成电路

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