南芯半导体申请电化学阻抗谱测量方法专利,提高算力性能
创始人
2026-01-20 14:37:52
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国家知识产权局信息显示,上海南芯半导体科技股份有限公司申请一项名为“电化学阻抗谱的测量方法、系统及电子设备”的专利,公开号CN121347902A,申请日期为2025年12月。

专利摘要显示,本申请提供一种电化学阻抗谱的测量方法、系统及电子设备。通过向待测电池施加激励电流信号;获取待测电池响应于激励电流信号而输出的响应电压信号,并按照预设采样频率对响应电压信号进行采样得到电压采样信号,以及按照预设采样频率对激励电流信号进行同步采样得到电流采样信号。对电压采样信号和电流采样信号进行时域至频域的处理转换,得到频域电压信号和频域电流信号。根据频域电压信号和频域电流信号得到电化学阻抗谱。由于激励电流信号的频率与待测阻抗的频率对应,预设采样频率为激励电流信号频率的整数倍。因此,电压采样信号和电流采样信号的数据长度均较短,使电化学阻抗谱的计算量降低。从而节省处理芯片的存储容量,提高算力性能。

天眼查资料显示,上海南芯半导体科技股份有限公司,成立于2015年,位于上海市,是一家以从事计算机、通信和其他电子设备制造业为主的企业。企业注册资本42570.2911万人民币。通过天眼查大数据分析,上海南芯半导体科技股份有限公司共对外投资了14家企业,参与招投标项目11次,财产线索方面有商标信息80条,专利信息237条,此外企业还拥有行政许可9个。

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来源:市场资讯

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