国家知识产权局信息显示,上海兆芯集成电路股份有限公司申请一项名为“测量老化补偿电压的处理器和方法”的专利,公开号CN121412172A,申请日期为2025年10月。
专利摘要显示,一种测量老化补偿电压的处理器和方法。该处理器包括处理器核心、电源控制单元,以及内置自测试电路。电源控制单元电性连接处理器核心,执行自测试固件,在一第一状态下输出初始电压。在第一状态下,处理器核心运作在固定操作频率。内置自测试电路电性连接电源控制单元,利用初始电压执行自测试产生测试结果。电源控制单元依据测试结果增加初始电压用以获得当前电压,或记录老化补偿电压。老化补偿电压相等于当前电压减去初始电压所获得的差。
天眼查资料显示,上海兆芯集成电路股份有限公司,成立于2013年,位于上海市,是一家以从事软件和信息技术服务业为主的企业。企业注册资本174417.5081万人民币。通过天眼查大数据分析,上海兆芯集成电路股份有限公司共对外投资了9家企业,参与招投标项目180次,财产线索方面有商标信息8条,专利信息674条,此外企业还拥有行政许可33个。
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来源:市场资讯