矽电半导体申请一种测试系统专利，测试效率较高
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2026-02-03 00:13:01
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国家知识产权局信息显示，矽电半导体设备（深圳）股份有限公司申请一项名为“一种测试系统”的专利，公开号CN121432111A，申请日期为2025年10月。
专利摘要显示，本申请涉及半导体测试技术领域，尤其是涉及一种测试系统。探针组件安装于机台组件，探针组件包括探针，探针用于与半导体接触并进行测试，探针被配置为与机台组件保持相对静止。移动装置安装于机台组件，载片台组件安装于移动装置，移动装置用于驱动载片台组件移动，以使载片台组件能够沿第一方向靠近或远离探针，以及载片台组件能够沿第二方向移动以切换半导体的待测单元。本申请通过移动装置驱动载片台组件沿第一方向靠近探针能够使得探针与待测试的半导体晶圆接触并进行测试，在测试完成后，继续通过驱动移动装置沿第一方向远离探针，并驱动载片台组件沿第二方向移动，其驱动速度较快，测试过程耗时较短，测试效率较高。
天眼查资料显示，矽电半导体设备（深圳）股份有限公司，成立于2003年，位于深圳市，是一家以从事专用设备制造业为主的企业。企业注册资本4172.7274万人民币。通过天眼查大数据分析，矽电半导体设备（深圳）股份有限公司共对外投资了6家企业，参与招投标项目83次，财产线索方面有商标信息30条，专利信息456条，此外企业还拥有行政许可16个。
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来源：市场资讯
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