蔚来芯科技申请芯片表面瑕疵检测方法专利，显著降低误判与漏检
创始人
2026-03-11 19:41:57
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国家知识产权局信息显示，深圳市蔚来芯科技有限公司申请一项名为“基于视觉检测的芯片表面瑕疵检测方法”的专利，公开号CN121633122A，申请日期为2026年1月。
专利摘要显示，本发明公开了基于视觉检测的芯片表面瑕疵检测方法，涉及半导体器件检测与图像识别技术领域，包括以下步骤：S100，获取芯片表面图像数据，并通过多通道图像反演机制提取局部光强畸变、边缘连续性断裂和色彩偏移特征，定位复合干扰区域；S200，基于复合干扰区域，采用多方向梯度矢量重建方法进行特征建模，将圆形渐变特征、线性突变特征和高频纹理特征进行边界分离，生成缺陷候选边界集合。本发明通过特征解耦、可信度筛选、缺陷演化建模与参数自适应处理，实现对复合缺陷的精细识别与动态响应，并引入风险等级评估体系，提升检测灵敏度与稳定性，显著降低误判与漏检，适用于高可靠性芯片应用场景，具备广泛推广价值。
天眼查资料显示，深圳市蔚来芯科技有限公司，成立于2020年，位于深圳市，是一家以从事软件和信息技术服务业为主的企业。企业注册资本620.1013万人民币。通过天眼查大数据分析，深圳市蔚来芯科技有限公司财产线索方面有商标信息10条，专利信息77条，此外企业还拥有行政许可8个。
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来源：市场资讯
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