芯合电子申请非易失性存储器数据读操作测试方法及硬件设备专利，可高效计算出存储器访问时间_电子技术

芯合电子申请非易失性存储器数据读操作测试方法及硬件设备专利，可高效计算出存储器访问时间

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2026-03-25 03:39:46

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国家知识产权局信息显示，芯合电子（上海）有限公司申请一项名为“一种非易失性存储器数据读操作测试方法及硬件设备”的专利，公开号CN121725865A，申请日期为2025年12月。

专利摘要显示，本申请实施例提供了一种非易失性存储器数据读操作测试方法及硬件设备，通过将测试数据烧录至存储器后，系统能够自动执行测试数据的读取与比较操作，基于比较结果以便确定期望值，系统可自适应地调节初步稳定读出数据的时钟周期范围，以精确地捕捉到数据读取成功的临界时钟周期，由此，可高效计算出存储器访问时间。该方法显著提升了测试覆盖度，并具备高度的实现灵活性，能够便捷地应用于多种测试平台或载体，实现对目标存储器读取速度的精准测量。

天眼查资料显示，芯合电子（上海）有限公司，成立于2018年，位于上海市，是一家以从事软件和信息技术服务业为主的企业。企业注册资本1610.5263万人民币。通过天眼查大数据分析，芯合电子（上海）有限公司共对外投资了10家企业，财产线索方面有商标信息1条，专利信息51条，此外企业还拥有行政许可2个。

声明：市场有风险，投资需谨慎。本文为AI基于第三方数据生成，仅供参考，不构成个人投资建议。

来源：市场资讯

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