智博发取得集成电路芯片缺陷检测装置专利，减少圆晶的整体晃动
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2026-03-30 23:18:00
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国家知识产权局信息显示，深圳市智博发科技有限公司取得一项名为“一种集成电路芯片缺陷检测装置”的专利，授权公告号CN224052032U，申请日期为2025年4月。
专利摘要显示，本实用新型提出了一种集成电路芯片缺陷检测装置，属于芯片质量检测技术领域。所述集成电路芯片缺陷检测装置，包括综合组件、检测组件以及圆晶，综合组件作为整体框架用于对圆晶进行吸附调节固定的同时对圆晶各处温度变化进行监控，综合组件内部固定连接有分隔板，检测组件安装在分隔板外部并处于综合组件中心上侧部位，检测组件用于对圆晶表面进行光学反射检测，通过反射光变化对缺陷处进行标记。本实用新型具有可以在进行光学检测时通过负压吸附进行即时固定，同时对因光学检测造成的升温变化实时监测，减少圆晶的整体晃动，可以通过红外光照射在圆晶表面进行反射接收检测，以此测试圆晶表面形状变化的优点。
天眼查资料显示，深圳市智博发科技有限公司，成立于2015年，位于深圳市，是一家以从事零售业为主的企业。企业注册资本100万人民币。通过天眼查大数据分析，深圳市智博发科技有限公司财产线索方面有商标信息2条，专利信息2条，此外企业还拥有行政许可10个。
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来源：市场资讯
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