金融界2025年5月27日消息,国家知识产权局信息显示,浙江创芯集成电路有限公司申请一项名为“半导体结构及存储结构的形成方法”的专利,公开号CN120050936A,申请日期为2025年03月。
专利摘要显示,一种半导体结构及存储结构的形成方法,形成方法包括:形成基底,基底包括:第一栅极层,第一栅极层沿第一方向延伸,至少2个第一栅极层沿第二方向排列;介质层,介质层位于第一栅极层上;在基底上形成第二栅极材料层;在第二栅极材料层上旋涂填充层;对填充层进行图形化,露出部分第二栅极材料层;以图形化后的填充层作为掩膜,刻蚀所露出的第二栅极材料层,形成第二栅极层,第二栅极层位于介质层上。填充层通过旋涂方式形成,填充层具有相当流动性,填充层的填充能力更强,能够有效保证相邻第一栅极层之间沟槽的充分填充,能够有效保证填充层图形化的精度,能够有效提高所形成第二栅极层的形貌和质量。
天眼查资料显示,浙江创芯集成电路有限公司,成立于2020年,位于杭州市,是一家以从事计算机、通信和其他电子设备制造业为主的企业。企业注册资本182000万人民币。通过天眼查大数据分析,浙江创芯集成电路有限公司共对外投资了1家企业,参与招投标项目248次,财产线索方面有商标信息14条,专利信息310条,此外企业还拥有行政许可6个。
来源:金融界