国家知识产权局信息显示,上海戴世汽车科技有限公司、戴世(苏州)汽车有限公司、上海戴世智能科技有限公司取得一项名为“传感器的批量检验测试装置”的专利,授权公告号CN224416144U,申请日期为2025年8月。
专利摘要显示,本申请公开了传感器的批量检验测试装置,涉及测试装置领域,包括高低温箱,高低温箱内设有多个放置板,高低温箱上设有用于带动放置板摆动的驱动组件,放置板上设有用于批量标定的测试组件,本申请通过旋转电机、第一摆动连杆和第二摆动连杆等结构间的配合设置,使用时,通过将运动传感器批量放置在放置板上,通过测试组件测试,在测试过程中,通过启动旋转电机,使联轴器带动第一摆动连杆转动,配合固定轴承和第二摆动连杆,使放置板进行摆动,使测试组件在运动传感器摆动过程中进行测试,尽量避免了无法对传感器进行摆动,难以测试出传感器在颠簸过程中的数据表现,导致降低了适用性的问题。
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来源:市场资讯